如何配置DFT中常见的MBIST以及SCANCHAIN

在现代芯片设计中，DFT（Design for Test）是必不可少的一环。其中，MBIST（Memory Built-In Self-Test）和SCANCHAIN（Scan Chain）是DFT中最为常见的两种技术。本文将详细介绍如何配置DFT中常见的MBIST以及SCANCHAIN。

MBIST配置

MBIST是一种内建自测试技术，它可以用于测试芯片中的存储器。MBIST测试通常是在制造过程中进行的，以确保存储器的正确性。以下是MBIST配置的一些常见方面：

测试模式

MBIST测试模式通常有两种：全测试模式和部分测试模式。全测试模式会测试存储器的所有存储单元，而部分测试模式只测试存储器的一部分。在实际应用中，通常会根据芯片的使用场景选择不同的测试模式。

测试时间

MBIST测试时间取决于存储器的大小和测试模式。在测试存储器时，需要设置测试时间，以确保测试覆盖了所有存储单元。测试时间通常是在设计时确定的，以确保测试时间不会超过芯片的制造成本。

测试覆盖率

MBIST测试覆盖率是指测试能够覆盖存储器中的所有故障类型的能力。测试覆盖率越高，意味着测试能够检测到更多的故障类型。在实际应用中，需要根据芯片的使用场景和制造成本来确定测试覆盖率。

测试数据生成

MBIST测试数据生成是指生成测试模式的过程。测试数据生成通常使用算法来生成测试模式，以确保测试能够覆盖所有存储单元。测试数据生成算法通常是在设计时确定的。

测试结果分析

MBIST测试结果分析是指对测试结果进行分析，以确定存储器中的故障类型。测试结果分析通常使用专业的测试工具来完成，云鼎4118网站-云顶集团官方网站-主页[欢迎您]-云顶集团官方网站以确保测试结果的准确性。

测试模式存储

MBIST测试模式存储是指将测试模式存储在芯片中的存储器中。测试模式存储通常使用专业的测试工具来完成，以确保测试模式的正确性和存储器中的数据安全性。

SCANCHAIN配置

SCANCHAIN是一种用于测试芯片中逻辑电路的技术。它可以在芯片设计时添加到逻辑电路中，以便在测试时使用。以下是SCANCHAIN配置的一些常见方面：

扫描链长度

SCANCHAIN的长度取决于芯片中需要测试的逻辑电路的数量。较长的扫描链可以测试更多的逻辑电路，但也会增加测试时间和芯片成本。

扫描链接口

SCANCHAIN的接口通常由输入和输出端口组成。输入端口用于向扫描链中加载测试数据，而输出端口用于读取测试结果。在设计时，需要确定扫描链的接口类型和数量。

扫描链控制

SCANCHAIN的控制通常由专用的测试控制器控制。测试控制器负责向扫描链中加载测试数据，并读取测试结果。在实际应用中，需要根据芯片的使用场景和测试需求来确定测试控制器的类型和数量。

扫描链测试模式

SCANCHAIN测试模式通常使用算法来生成测试模式。测试模式需要覆盖所有逻辑电路，以确保测试能够检测到所有故障类型。测试模式生成算法通常是在设计时确定的。

扫描链测试结果分析

SCANCHAIN测试结果分析是指对测试结果进行分析，以确定逻辑电路中的故障类型。测试结果分析通常使用专业的测试工具来完成，以确保测试结果的准确性。

扫描链存储

SCANCHAIN测试模式和测试结果通常存储在芯片中的存储器中。存储器需要足够大，以存储所有的测试模式和测试结果。在实际应用中，需要根据芯片的使用场景和存储器成本来确定存储器的大小。